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宿州led电子显示屏ESD破坏机制

文章出处:安徽中恒广告亮化有限责任公司人气:5
发布时间:2021/07/08

      由静电击穿引起的元器件击穿损坏是电子工业中,特别是电子产品制造中最普遍、最严重的危害。静电放电可能造成器件硬击穿或软击穿。硬击穿是一次性造成器件的永久性失效,如器件的输出与输入开路或短路。所谓硬击穿是一次性造成芯片内热,二次击穿金属喷键,熔融介质,击穿表面等最终使集成电路彻底损坏永久性失效。

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      当静电放电能量达到一定值时其足以引起集成电路爆炸,使其芯片完全烧毁裸露,造成人身伤害、设备故障。硬击穿的特征明显,一般来说可以在器件组装件或插件板出厂交货之前检查软击穿(软失效)是造成器件的性能劣化或参数指标下降,但还没有完全损坏而形出来。
      在宿州led电子显示屏最后质量检验中很难被发现。在使用时静电造成的电路潜在损伤会使其参数变化品质劣化,寿命降低,使设备运行一段时间后随温度、时间、电压的变化出现各种故障从而不能正常工作即为软失效。如果受损的芯片属于一些重要的控制系统,如网络中心控制系统、自动播出控制系统、生产调度控制中心、电子作战指挥系统、自动导航系统、火箭发射控制系统等,其造成的危害有时是难以预料的,这潜在的损伤实际上具有更大危害,造成的直接或间接损失更为严重。软击穿不易察觉具有潜在隐蔽的特点,其危害性更大,有关资料证明,ESD引起的器件损伤90%为潜在性的软击穿损伤,10%为立即失效的损伤类型。